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MOSFET开态热载流子效应可靠性

消耗积分:5 | 格式:rar | 大小:370 KB | 2012-04-23

王兰

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总结了几种热载流子,并在此基础上详细讨论了热载流子注入(HCI) 引起的退化机制。对器件寿命预测模型进行了总结和讨论。为MOSFET 热载流子效应可靠性研究奠定了基础。
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