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EIA 364 102

消耗积分:5 | 格式:rar | 大小:333 | 2008-08-10

王利祥

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EIA STANDARD TP-102
Rise Time Degradation Test Procedure
for Electrical Connectors, Sockets,
Cable Assemblies or Interconnection
Systems
EIA-364-102
DECEMBER 1998
ELECTRONIC INDUSTRIES ALLIANCE
Electronic Components, Assemblies, Equipment & Supplies Association
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