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基于MarchC-算法的SRAM BIST电路的设计

消耗积分:5 | 格式:rar | 大小:147 | 2010-04-26

生龙活虎3

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摘要：针对某SOC中嵌入的8KSRAM模块，讨论了基于MarchC-算法的BIST电路的设计。根据SRAM的故障模型和测试算法的故障覆盖率，研究了测试算法的选择、数据背景的产生，并完成了基于MarchC-算法的BIST电路的设计。实验证明，该算法的BIST实现能大幅提高故障覆盖率 。 
关键词：静态存储器；MarchC-算法；内建自测试
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