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对GDSII database进行gate-level寄生参

消耗积分:3 | 格式:rar | 大小:151 | 2010-06-07

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Abstract
伴随着SOC技术的发展，自动布局布线规模不断扩大，同时产品的上市周期由于市场竞争的加剧压力也愈来愈大。因此，如何提高自动布局布线设计中寄生参数验证的效率成为众多IC设计者必须要考虑的重要课题。
通过引入calibre DRC/LVS/XRC，vimicro已经发展了一套提高自动布局布线设计验证效率的方法，这些方法包括GDSII文件的直接处理，使用gate-level寄生参数抽取来满足数字电路的时序分析验证，以及修改相应的文件来加速寄生参数的抽取等。
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