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基于自适应阵列算法的天线方向图校正技术的详细资料说明
swxy
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提出了一种基于自适应阵列算法的天线方向图校正技术。该方法对被测天线（AUT）在安静区内不同位置的天线方向图进行多次测量。校正后的天线方向图是通过测量方向图的加权平均得到的。采用阵列综合算法求出AUT各转角处的平均权值。重量专门针对特定AUT进行调整。在310千兆赫基于全息图的紧凑型天线测试范围（CATR）中，采用合成天线和物理测试天线，演示了自适应阵列校正技术。为了进行验证，将自适应阵列校正技术提供的精度与均匀加权技术提供的精度进行了比较。
紧凑型天线测试范围（CATR）的测量精度受到杂散信号水平的限制。杂散信号电平应远低于被测天线的旁瓣电平（AUT），但采用天线方向图校正技术可以降低这一要求。一种潜在的校正方法是天线模式比较（APC），APC最初是为估计天线测试范围的反射率水平而开发的，但也可用于模式校正。在APC方法中，天线方向图在安静区的不同位置被多次测量。通过结合测量的图形，得到校正后的图形。
已开发出从APC数据中获得校正模式的几种方法。在虚拟阵列方法中，AUT的天线方向图在安静区的不同位置上测量两次。天线在第一次测量期间保持在原位，而在第二次测量期间作为旋转角度的函数移动。对位移进行调整，使得在每个旋转角度处，测量点形成一个虚拟阵列，其阵列系数在所需平面波方向上有一个峰值，在主光束方向上有一个零。
范诺尔和沃库卡介绍了一种他们称之为先进或新型天线模式比较（napc）的方法。
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