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IGBT功率循环可靠性测试设备
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2023-02-23
李丹
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本测试设备可对大功率IGBT器件进行功率循环耐久性试验，以确认IGBT器件承受结温波动的能力，通过试验前后各种电参数变化判断IGBT器件内部制造工艺可靠性及器件的使用寿命，用于研究电力电子 变流装置中大功率IGBT的疲劳失效及寿命预测方法，模拟器件工作时芯片和封装材料承受的温度梯度冲击影响，为评估器件寿命提供依据。是IGBT检测必不可少的测试设备。 测试标准符合GB/T17573-1998以及IEC60747-9相关标准要求。本设备采用计算机自动控制系统，后台软件实时监控、自动处理目标数据，具有测试精度高、操作方便、高效等优点。
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