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ADET-5000/ADET-5100可靠性数据表
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2023-07-20
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描述
本文件描述了ADET-5000和ADET-5100，基于本数据表。ADET-5000和在AFEM-7782上演示了ADET-5100功率检测器的性能。基于类似的封装尺寸，对MGA-24106进行了机械测试（1.2毫米x 1.5毫米x 0.5毫米）和工艺。该模块是一个宽带宽、宽动态范围为蜂窝式手机开发的功率检测器，无线数据卡和嵌入式解决方案与Avago的功率放大器系列相结合。其高灵敏度和宽频带支持调制信号的快速内环校准和真包络采样用于调制波形的精确功率均衡。
可靠性预测模型
采用指数累积失效函数（恒定失效率）模型预测失效率平均失效时间（MTTF）。磨损机制是因此不予考虑。使用了阿伦尼斯温度降额方程。假设应力和使用条件之间没有失效机制变化。偏置和温度条件是可变的应力和在确定应力条件时，必须考虑器件的热阻。失败速率会和生活压力的偏差有直接的关系。已测试HBT以确定1.58eV的活化能，并用于预测MTTF和FITHBT的费率。置信区间基于与指数分布相关的卡方预测方法。
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