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半导体LED芯片测试方法

消耗积分:0 | 格式:pdf | 大小:144 KB | 2011-12-22

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LED芯片测试方法主要涉及LED芯片的电、辐射度和光度及色度学参数，包括正向电压、反向电流、色品坐标、主波长、色纯度、光强度和光通量等；另外，LED热学参数如结温、热阻和静电放电测试方法，包括人体模式和机器模式测试等在生产实践中也常用到。为进一步推进和规范LED芯片测试和试验工作并和国外接轨,必须制定产业界切实有效的LED芯片测试方法的标准。虽然LED芯片测试的原理与已封装器件类似,但是在测试的准确性、可重复性和可比对性方面仍然存在许多问题。因此本标准对芯片测试的关键部分作出了统一明确的规定,例如规定了探针台表面反射率、探针的直径、弹性和角度等,同时标准还推荐了不同测试装置之间定标校准的方法。使芯片的测试可以在可靠、重复性好的情况下进行。
 
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