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SN74LVTH18512-EP/SN74LVTH182512-EP数据表

消耗积分:0 | 格式:pdf | 大小:894.09KB | 2024-06-03

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带有18位通用总线收发器的SN74LVTH18512和SN74LVTH182512扫描测试设备德州仪器公司可测试性集成电路系列的成员。该系列设备支持IEEE Std 1149.1-1990边界扫描，以便于测试复杂的电路板组件。通过4线测试访问端口（TAP）接口实现对测试电路的扫描访问。
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