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SN54LVT18512,SN54LVT182512,SN74LVT18512,SN74LVT182512数据表

消耗积分:0 | 格式:pdf | 大小:959.03KB | 2024-06-03

张宇

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带有18位通用总线收发器的“LVT18512”和“LVT182512”扫描测试设备是德州仪器SCOPE可测试性集成电路家族的成员。该系列设备支持IEEE Std 1149.1-1990边界扫描，以便于测试复杂的电路板组件。通过4线测试访问端口（TAP）接口实现对测试电路的扫描访问。
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