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边界扫描测试技术介绍

消耗积分:3 | 格式:ppt | 大小:1422KB | 2015-04-22

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随着微电子技术、微封装技术和印制板制造技术的不断发展，印制电路板变得越来越小，密度越来越大，复杂程度越来越高，使用万用表、示波器测试芯片的传统“探针”方法已不能满足要求。在这种背景下，早在20世纪80年代，联合测试行动组(Joint Test Action Group，简称JTAG)就起草了边界扫描测试(Boundary Scan Testing，简写BST)技术规范，后来在1990年被批准为IEEE标准1149.1-1990规定，简称JTAG标准。该规范提供了有效地测试引线间隔致密的电路板上元器件的能力。
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