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ADP2381稳压芯片的过压保护ATE测试研究

消耗积分:0 | 格式:pdf | 大小:775KB | 2015-12-31

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本文首先介绍了芯片行业常用的测试方法和ATE（ Automatic Test Equipment)测试的一般原理。根据ADP2381稳压芯片的系统构架和特点给出了该芯片的主要测试指标。结合ATE测试的技术优势，基于软件测试技术，以ADP2381过压保护功能为实例，提出了一种基于ATE测试系统的整体设计方案。测试结果表明该ATE测试系统能很好地完成ADP2381芯片过压保护功能的完好性测试。
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