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EE241 Advanced Digital Integrated Circuits Lecture16
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2017-10-18
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Physical
Changes in characteristics of devices and wires.
Caused by IC manufacturing process & wear-out （electromigration）。
Time scale： 109sec （years）。
Environmental
Changes in VDD， Temperature， local coupling.
Caused by the specifics of the design implementation.
Time scale： 10−6 to 10−9 sec （clock tick
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