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DFT分步法原理分析

消耗积分:0 | 格式:rar | 大小:0.65 MB | 2017-11-11

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　　随着芯片规模的增大，低功耗不仅是在功能与性能方面对设计者的挑战越来越大，同时对于测试而言，随着SCAN　CELL的增多，在SCAN测试时，芯片的功耗也会增大。功耗越大，则芯片的温度升高，导致芯片内部的电性参数发生偏移，扫描链测试失败。这对DFT（Design for Test）以及ATPCJ（Automatic Test Pattern Ceneration）提出了更高的挑战。

DFT分步法原理分析

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