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应用于FPGA的边界扫描设计

消耗积分:5 | 格式:rar | 大小:433 | 2009-12-14

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应用于FPGA的边界扫描设计
蒋晓
（中国电子科技集团 38 研究所，合肥230031）
摘要：针对在FPGA芯片中的应用特点，设计了一种边界扫描电路，应用于自行设计的FPGA新结构之中。该电路侧重于电路板级测试功能的实现，兼顾芯片功能的测试；同时，加入了器件编程功能。
关键词：边界扫描；现场可编程门阵列；可测试性设计；器件编程
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