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8位RISC_CPU可测性设计

消耗积分:3 | 格式:rar | 大小:129 | 2010-07-30

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本文介绍了一款RISC_CPU的可测性设计,为了提高芯片的可测性,采用了扫描设计和存储器内建自测试,这些技术的使用为该芯片提供了方便可靠的测试方案。
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