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一种低功耗BIS 测试方法

消耗积分:3 | 格式:rar | 大小:142 | 2009-08-06

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通过分析 RTL 的代码和RTL 的故障仿真可得到一组屏蔽向量，将这些屏蔽向量和随机向量应用到门级进行故障测试可提高系统的故障覆盖率并降低测试功耗。本文主要论述了利用RTL 的功能信息进行低功耗BIST 测试的方法，并通过其在标准电路中的应用阐述实现过程。
关键字：寄存器传输级，内建自测试，故障模型，随机抵抗性故障
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