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时序电路测试向量的压缩
消耗积分:2 |
格式:rar |
大小:299 |
2009-08-29
孙成红
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时序电路测试生成算法产生的向量存在冗余。针对此问题提出一种压缩算法，减少测试序列的总长度，从而减少了仿真的时间和ATE 设备的测试的时间，加速了测试的流程。实验结果表明，这种方法实现了较高的压缩效率，同时对测试序列的故障覆盖率和故障分辨率等参数影响很小。
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