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TI BAW振荡器的振动和机械冲击性能

消耗积分:0 | 格式:pdf | 大小:2.79MB | 2024-08-28

梁宏满

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BAW（体声波）振荡器是一项全新的振荡器技术。基于晶体的振荡器已存在多年，在 MEMS 技术推出之前就已问 世。与基于晶体和基于 MEMS 的振荡器相比，BAW 技术可带来可靠性优势。BAW 在改善振动、机械冲击和故障 间隔平均时间 (MTBF) 性能方面具有高度可靠性，可减少系统设计人员对恶劣环境下振荡器性能的担忧，使设计 人员能够将更多精力放在总体系统性能上。与石英振荡器中使用的石英或机械元件不同，TI 的压电式 BAW 谐振 器是使用半导体工艺设计的。 机械冲击和振动会损坏振荡器并降低性能。振动会导致相位噪声或抖动增加，而机械冲击会导致频率偏移或尖 峰。本应用手册提供了有关 BAW 振荡器在严格正弦、随机振动和机械冲击条件下性能的更多详细信息，并介绍了 各种 MIL-STD-883 测试方法、测试设置和性能结果。
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