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UC3726/UC3727芯片IGBT隔离双驱动评估套件测试程序
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2017-06-30
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UC3726芯片UC3727芯片的IGBT隔离驱动双/评估套件可供设计工程师验证，这种独特的解决方案，隔离栅极驱动应用的效能。相关的是每个IC和单电极应用笔记u-143a描述每个设备的功能、操作数据表，编程和运行波形。一份设计指南dg-200a包含设计说明dn-57这礼服功耗问题，并为评估套件简化测试程序也是有益的。用户应该花时间熟悉这些设备为各种应用提供的众多性能指标和故障保护选项。这一代艾莱依UC3726芯片测试程序UC3727芯片/可用于评估套件以及调试任何原型电路或第一次印刷电路板。参考图15的应用笔记u-143a一完整的电路原理图和表1材料清单。
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