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采用CCD的非接触测量中提高精度的一种方法

消耗积分:2 | 格式:rar | 大小:197 | 2009-07-03

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利用CCD 传感器对工件进行测量是非接触测量领域的常用方法,但受到CCD 像元特征尺寸的限制,测量精度往往只能达到微米级,限制了该系统在非接触测量方面的更广泛应用。本文从算法角度提出了一种提高CCD 精度的方法。实验证明,方法能将测量的精度提高一个数量级。
关　键　词:电荷耦合器件;尺寸测量;边缘检测;梯度
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