当前,新型电子装备的功能电路80%以上由数字电路组成,模拟电路虽然只占很小的比例,但装备80%以上的故障由模拟电路产生,同时由于元器件容差的存在,模拟电路的测试诊断相对困难,因此,针对模拟系统开展测试诊断方法研究具有重要意义。
一个诊断系统的质量和效率取决于从系统中得到的故障信息,而故障信息来源于分布于系统上的测试点。相当一部分关于故障诊断的研究都默认测试点事先已经合理配置。实际中,受总体测试代价、可配置的测试资源等因素制约,不可能在所有测试
点上配置测试资源进行测试。通过对测试点优化,从中选取那些故障信息最大的测试点集,完全可以取得和对所有测试点都进行测试一样的故障分辨率。近来,确定一个具体诊断系统的测试点最优数目及其分布己引起人们关注。
声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
全部0条评论
快来发表一下你的评论吧 !