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如何使用MCP651输入失调评估板的详细中文资料概述
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本文档介绍了如何使用 MCP651 输入失调评估板。本手册的内容编排如下：
• 第 1 章“产品概述”——有关 MCP651 输入失调评估板的重要信息。
• 第 2 章“安装与操作”——介绍 MCP651 输入失调评估板的初始设置。其中列有所需的工具，并介绍了如何设置评估板以及如何连接实验室设备。然后，演示了该评估板的使用方法。
• 第 3 章“可能进行的修改”——介绍如何针对 SOIC-8、PDIP-8 等封装内的其他 Microchip 单运放对评估板进行修改。
• 附录 A“原理图与布线图”——介绍 MCP651 输入失调评估板的原理图与布线图。
• 附录 B“物料清单（BOM）”——列有用于组装 MCP651 输入失调评估板的部件。同时还列出了ESD包装内随电路板提供的可拆部件、替换元件以及未组装元件。
MCP651 输入失调评估板为测量各种工作条件下 MCP651 输入失调评估板运放的输入失调电压提供简易的方法。测得的输入失调电压（VOST）包括数据手册中指定的输入失调电压（VOS），以及受以下因素影响产生的变化量：电源电压（PSRR）、共模电压（CMRR）、输出电压（AOL）、随温度产生的输入失调电压漂移（ΔVOS/ΔTA）以及 1/f 噪声。
MCP651 输入失调评估板在室温（25°C 左右）条件下的效率最高。其他温度下的测量应在烘箱中进行，其中的气流速度已降至最低。
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