资料下载
×
半导体测试：基于PXI 平台的先进性能中的AC/DC和V-I测试
消耗积分:2 |
格式:pdf |
大小:382.88KB |
2021-11-10
王毅山
分享资料个
前言 当今半导体测试工程师面临的挑战是如何寻找和创建一个新的测试解决方案，该方案被要求能够显著降低测试成本，并满足可配置、开放架构、灵活的测试解决方案的需求，这些解决方案可以提供与专用ATE平台相媲美的功能。特别是，对于低至中等数量的测试需求，例如在试生产、验证和集中生产过程中的测试应用，对灵活且经济高效的ATE解决方案的需求尤为迫切。对于这些应用，测试工程师过去一直依赖传统的测试系统，这些系统的购置成本很低，但运营成本很高，或者是内部设计的机架堆叠的解决方案。然而，基于PXI平台的半导体测...
声明：本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人，不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用，如有内容侵权或者其他违规问题，请联系本站处理。 举报投诉
评论(0)
发评论
- 相关下载
- 相关文章
