×

功率模块引线键合界面温度循环下的寿命预测

消耗积分:2 | 格式:rar | 大小:3.06 MB | 2018-03-08

分享资料个

　　针对功率模块引线键合部位在温度循环作用下的疲劳失效问题，对功率模块在温度循环作用下的疲劳寿命进行了研究，利用温度循环试验箱对3种不同封装材料的功率模块进行了温度循环实验。通过数值模拟，结合子模型技术，确定了引线键合的危险部位；并根据Coffin-Manson疲劳寿命预测理论，对上述引线键合界面进行了寿命预测。同时，基于内聚力模型和损伤演化理论提出了一套寿命预测方法，利用ABAQUS软件的用户自定义程序接口UEL，编制了相应的程序，对键合界面的疲劳寿命进行了预测。研究结果表明：两种寿命预测方法均具有一定的适应性，利用循环内聚力模型模拟能够得到与实验更吻合的结果，并且能再现键合界面的失效过程。

功率模块引线键合界面温度循环下的寿命预测

下载并关注上传者 低至0.43元/天 开通VIP 免费下载

声明：本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人，不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用，如有内容侵权或者其他违规问题，请联系本站处理。 举报投诉

评论(0)
发评论

下载排行榜

全部0条评论

快来发表一下你的评论吧 !