×

边界扫描技术及其在VLSI芯片互连电路测试中的应用

消耗积分:0 | 格式:rar | 大小:222 | 2010-05-14

刘艳

分享资料个

摘要：本文介绍了支持JTAG标准的IC芯片结构、以PC机作平台，针对由两块Xilinx公司的xc9572一pc84芯片所互连的PCB板，结舍边界扫描技术，探讨了芯片级互连故障的测试与诊断策略。体现了边界扫描技术对于芯片互连故障测试检验效率高，控制简单方便，易于实现的优越性。
关键词：JTAG标准;边界扫描技术；芯片级互连测试；超大规模集成电路；故障诊断；可测性设计
下载并关注上传者 开通VIP，低至0.08元下载/次

声明：本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人，不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用，如有内容侵权或者其他违规问题，请联系本站处理。 举报投诉

评论(0)
发评论

下载排行榜

全部0条评论

快来发表一下你的评论吧 !