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DAC38RF8x测试模式

消耗积分:0 | 格式:pdf | 大小:2.95MB | 2024-10-09

韩刚龙

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DAC38RF8x系列器件配有多种测试模式，有助于用户在快速原型制作环境中验证系统。本应用报告涵盖了两种可用的测试，伪随机数二进制序列测试和JESD204B短码测试，并详细介绍了TIDAC38RF8xEVM和TSW14J56EVM采集卡的使用。
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